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博達微FS-Pro半導體參數(shù)測試系統(tǒng)是一款功能全面、配置靈活的半導體器件電學特性分析設備，在一個系統(tǒng)中實現(xiàn)了電流電壓 (IV) 測試、電容電壓 (CV) 測試、脈沖式 IV 測試、任意線性波形發(fā)生與測量、高速時域信號釆集以及低頻噪聲測試能力。

吉時利全自動半導體參數(shù)分析儀4200A-SCS參數(shù)分析儀加快各類材料、半導體器件和*工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能電學特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓曲線測試(I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試(C-V曲線測試)和超快脈沖I-V曲線測量。

LET-2000D力鈦科（Letak）半導體靜動態(tài)測試系統(tǒng)是滿足IEC60747-8/9、JESD24標準，旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數(shù)評估、驅(qū)動設計、PCB設計等需要的場合。特別對于應用第三代半導體的需要，有著較高的系統(tǒng)帶寬，可以有效的測量出實際的器件參數(shù)。

同惠TH511半導體C-V特性分析儀TH510系列半導體C-V特性分析儀是同惠電子針對半導體材料及器件生產(chǎn)與研發(fā)的分析儀器。 TH510系列半導體C-V特性分析儀創(chuàng)新性地采用了雙CPU架構(gòu)、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使用說明及幫助等新一代技術，適用于生產(chǎn)線快速分選、自動 化集成測試及滿足實驗室研發(fā)及分析。